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Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits

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Autore principale:	Ker, Ming-Dou
Ente Autore:	ebrary, Inc
Altri autori:	Hsu, Sheng-Fu
Natura:	Elettronico eBook
Lingua:	inglese
Pubblicazione:	Singapore ; Hoboken, NJ : Wiley, c2009.
Soggetti:	Metal oxide semiconductors, Complementary > Defects. Metal oxide semiconductors, Complementary > Reliability. Electronic books.
Accesso online:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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