ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակներ: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գիտաժողովի նյութեր էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Materials Park, OH : ASM International, c2005.
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!