ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Yhteisötekijät: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Aineistotyyppi: Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Materials Park, OH : ASM International, c1999.
Aiheet:
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!