International Symposium for Testing and Failure Analysis Portland, Or., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, & ebrary, Inc. (2008). ISTFA 2008: Conference proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA. Asm International.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
International Symposium for Testing and Failure Analysis Portland, Or., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, এবং Inc ebrary. ISTFA 2008: Conference Proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA. Materials Park, OH: Asm International, 2008.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
International Symposium for Testing and Failure Analysis Portland, Or., et al. ISTFA 2008: Conference Proceedings from the 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 2-6, 2008, Oregon Convention Center, Portland, Oregon, USA. Asm International, 2008.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.