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Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices

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Detalhes bibliográficos
Autor Corporativo: ebrary, Inc
Outros Autores: Schrimpf, Ronald Donald, Fleetwood, D. M. (Dan M.)
Formato: Recurso Eletrônico livro eletrônico
Idioma:inglês
Publicado em: Singapore ; New Jersey : World Scientific Pub., c2004.
coleção:Selected topics in electronics and systems ; vol. 34.
Assuntos:
Electronic circuits > Effect of radiation on.
Integrated circuits > Effect of radiation on.
Electronic books.
Acesso em linha:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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