Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי: ebrary, Inc
מחברים אחרים: Schrimpf, Ronald Donald, Fleetwood, D. M. (Dan M.)
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Singapore ; New Jersey : World Scientific Pub., c2004.
סדרה:Selected topics in electronics and systems ; vol. 34.
נושאים:
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור
תאור פריט:Also published in the International Journal of High Speed Electronics and Systems, v. 14, no. 2 (2004) p. 285-623.
תיאור פיזי:viii, 339 p. : ill.
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references.