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Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	ebrary, Inc
Weitere Verfasser:	Nakamura, Takashi, 1939-
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Hackensack, NJ : World Scientific, c2008.
Schlagworte:	Semiconductor storage devices. Neutron irradiation. Radiation dosimetry. Nuclear physics. Electronic books.
Online-Zugang:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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