Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Hackensack, NJ :
World Scientific,
c2008.
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | xxii, 343 p. : ill. (some col.) |
|---|---|
| Библиография: | Includes bibliographical references (p. 291-315) and index. |