Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices
Salvato in:
| Ente Autore: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Elettronico eBook |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
Hackensack, NJ :
World Scientific,
c2008.
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| Soggetti: | |
| Accesso online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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| Descrizione fisica: | xxii, 343 p. : ill. (some col.) |
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| Bibliografia: | Includes bibliographical references (p. 291-315) and index. |