תמונות העטיפה

QR Code

System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי:	ebrary, Inc
מחברים אחרים:	Wang, Laung-Terng, Stroud, Charles E., Touba, Nur A.
פורמט:	אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008.
סדרה:	Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
נושאים:	Systems on a chip > Testing. Integrated circuits > Very large scale integration > Testing. Integrated circuits > Very large scale integration > Design. Electronic books.
גישה מקוונת:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים

VLSI test principles and architectures design for testability /
יצא לאור: (2006)

Power-constrained testing of VLSI circuits
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994)

VLSI circuits for biomedical applications
יצא לאור: (2008)

High performance devices proceedings of the 2004 IEEE Lester Eastman Conference on High Performance Devices, Rensselaer Polytechnic Institute, 4-6 August 2004 /
יצא לאור: (2005)

Mosfet modeling for VLSI simulation theory and practice /
מאת: Arora, N. (Narain), 1943-
יצא לאור: (2007)

VLSI custom microelectronics digital, analog, and mixed-signal /
מאת: Hurst, S. L. (Stanley Leonard)
יצא לאור: (1999)

Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
מאת: Radecka, Katarzyna
יצא לאור: (2003)

Advanced high speed devices
יצא לאור: (2010)

CMOS fractional-N synthesizers design for high spectral purity and monolithic integration /
מאת: Muer, Bram de
יצא לאור: (2003)

Broadband circuits for optical fiber communication
מאת: Säckinger, Eduard, 1959-
יצא לאור: (2005)

Electromigration in ULSI interconnections
מאת: Tan, Cher Ming, 1959-
יצא לאור: (2010)

Advanced interconnects for ULSI technology
יצא לאור: (2012)

VLSI and computer architecture
יצא לאור: (2009)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)

A one-semester course in modeling of VLSI interconnections /
מאת: Goel, Ashok K., 1953-
יצא לאור: (2015)

Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
מאת: Ibe, Eishi H.
יצא לאור: (2015)

System integration from transistor design to large scale integrated circuits /
מאת: Hoffmann, Kurt, 1951-
יצא לאור: (2004)

An engineer's guide to automated testing of high-speed interfaces
מאת: Moreira, José, 1975-
יצא לאור: (2010)

Verification techniques for system-level design
מאת: Fujita, Masahiro, 1956-
יצא לאור: (2008)

Radio frequency integrated circuit design
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)

High-speed integrated circuit technology towards 100 GHz logic /
יצא לאור: (2001)

Nanometer frequency synthesis beyond phase-locked loop
מאת: Xiu, Liming
יצא לאור: (2012)

System-on-a-chip design and test /
מאת: Rajsuman, Rochit
יצא לאור: (2000)

High-speed heterostructure devices from device concepts to circuit modeling /
מאת: Roblin, Patrick, 1958-
יצא לאור: (2002)

Advanced semiconductor devices proceedings of the 2006 Lester Eastman Conference, Cornell, Ithaca, NY, USA, 26 August 2006 /
יצא לאור: (2007)

Semiconductor terahertz technology : devices and systems at room temperature operation /
יצא לאור: (2015)

RF CMOS power amplifiers theory, design, and implementation /
מאת: Hella, Mona Mostafa
יצא לאור: (2002)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)

ESD failure mechanisms and models /
מאת: Voldman, Steven H.
יצא לאור: (2009)

Design for at-speed test, diagnosis, and measurement
יצא לאור: (2000)

Alternative computer chips post-silicon circuits.
יצא לאור: (2003)

Signal integrity and radiated emission of high-speed digital systems
מאת: Caniggia, Spartaco
יצא לאור: (2008)

Ultrafast all-optical signal processing devices
יצא לאור: (2008)

Professional embedded arm development /
מאת: Langbridge, James A.
יצא לאור: (2014)

CMOS circuit design for RF sensors
מאת: Gudnason, Gunnar
יצא לאור: (2002)

Understanding fabless IC technology
מאת: Hurtarte, Jeorge S.
יצא לאור: (2007)

Production testing of RF and system-on-a-chip devices for wireless communications
מאת: Schaub, Keith B.
יצא לאור: (2004)