ebrary, Inc, & Dumin, D. J. (2002). Oxide reliability: A summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability. World Scientific.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)
ebrary, Inc, i D. J. Dumin. Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability. [River Edge, NJ]: World Scientific, 2002.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)
ebrary, Inc, i D. J. Dumin. Oxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability. World Scientific, 2002.
Skopiowano do schowka
Nie udało się skopiować do schowka
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..