Fakebusters II scientific detection of fakery in art and philately /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
Corporate Authors:	Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, International Center for Art Intelligence, Philatelic Fakes Forgeries and Experts, ebrary, Inc
מחברים אחרים:	Weiss, Richard J. (Richard Jerome), 1923-, Chartier, Duane R.
פורמט:	אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Singapore ; Hackensack, N.J. : World Scientific, c2004.
סדרה:	Series in popular science ; v. 4.
נושאים:	Art > Forgeries > Congresses. Art > Radiography > Congresses. Art > Expertising > Congresses. Expertising, X-ray > Congresses. Science and the arts > Congresses. Art and science > Congresses. Electronic books.
גישה מקוונת:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

תיאור
תאור פריט:	"Based on the proceedings of the symposium held at Photonics East 1999 [in Boston on September 20-21, 1999], sponsored by SPIE, the International Optical Engineering Society, Bellingham, WA 98227-0010, USA ; ICAI, the International Center for Art Intelligence, Culver City, CA 90230-5109, USA ; FFE, Fakes, Forgeries, and Experts, Castagnola, CH-6976, Switzerland."
תיאור פיזי:	x, 317 p. : ill. (some col.).
ביבליוגרפיה:	Includes bibliographical references.

פריטים דומים