Design for at-speed test, diagnosis, and measurement

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Співавтор:	ebrary, Inc
Інші автори:	Nadeau-Dostie, Benoit
Формат:	Електронний ресурс eКнига
Мова:	English
Опубліковано:	Boston : Kluwer Academic, c2000.
Серія:	Frontiers in electronic testing.
Предмети:	Integrated circuits > Testing. Electronic apparatus and appliances > Testing. Electronic books.
Онлайн доступ:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Інтернет