פריטים דומים
Electron diffraction techniques.
יצא לאור: (1993)
יצא לאור: (1993)
Modern diffraction methods
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Modern diffraction methods
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
מאת: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
יצא לאור: (2014)
מאת: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
יצא לאור: (2014)
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
מאת: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
יצא לאור: (2014)
מאת: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
יצא לאור: (2014)
Two-dimensional X-ray diffraction
מאת: He, Bob B., 1954-
יצא לאור: (2009)
מאת: He, Bob B., 1954-
יצא לאור: (2009)
Two-dimensional X-ray diffraction
מאת: He, Bob B., 1954-
יצא לאור: (2009)
מאת: He, Bob B., 1954-
יצא לאור: (2009)
Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
The basics of crystallography and diffraction
מאת: Hammond, C. (Christopher), 1942-
יצא לאור: (2009)
מאת: Hammond, C. (Christopher), 1942-
יצא לאור: (2009)
The basics of crystallography and diffraction
מאת: Hammond, C. (Christopher), 1942-
יצא לאור: (2009)
מאת: Hammond, C. (Christopher), 1942-
יצא לאור: (2009)
Structure from diffraction methods /
יצא לאור: (2014)
יצא לאור: (2014)
Structure from diffraction methods /
יצא לאור: (2014)
יצא לאור: (2014)
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data /
מאת: Will, Georg
יצא לאור: (2006)
מאת: Will, Georg
יצא לאור: (2006)
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data /
מאת: Will, Georg
יצא לאור: (2006)
מאת: Will, Georg
יצא לאור: (2006)
X-ray and related techniques : selected, peer reviewed papers of the International Conference on X-ray and Related Techniques in Research and Industry (IXCRI 2010) held at Langkawi Island, Malaysia from 9th to 10th of June 2010 /
יצא לאור: (2011)
יצא לאור: (2011)
X-ray and related techniques : selected, peer reviewed papers of the International Conference on X-ray and Related Techniques in Research and Industry (IXCRI 2010) held at Langkawi Island, Malaysia from 9th to 10th of June 2010 /
יצא לאור: (2011)
יצא לאור: (2011)
Structure determination from powder diffraction data
יצא לאור: (2002)
יצא לאור: (2002)
Structure determination from powder diffraction data
יצא לאור: (2002)
יצא לאור: (2002)
29th Annual Conference of the German Crystallographic Society, March 15-18, 2021, Hamburg, Germany.
יצא לאור: (2021)
יצא לאור: (2021)
29th Annual Conference of the German Crystallographic Society, March 15-18, 2021, Hamburg, Germany.
יצא לאור: (2021)
יצא לאור: (2021)
Chemical crystallography
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Chemical crystallography
יצא לאור: (2010)
יצא לאור: (2010)
Einfuhrung in die Kristalloptik /
מאת: Buchwald, Eberhard, 1886-
יצא לאור: (1952)
מאת: Buchwald, Eberhard, 1886-
יצא לאור: (1952)
Einfuhrung in die Kristalloptik /
מאת: Buchwald, Eberhard, 1886-
יצא לאור: (1952)
מאת: Buchwald, Eberhard, 1886-
יצא לאור: (1952)
Theories and techniques of crystal structure determination
מאת: Shmueli, U. (Uri)
יצא לאור: (2007)
מאת: Shmueli, U. (Uri)
יצא לאור: (2007)
Theories and techniques of crystal structure determination
מאת: Shmueli, U. (Uri)
יצא לאור: (2007)
מאת: Shmueli, U. (Uri)
יצא לאור: (2007)
X-Ray charge densities and chemical bonding /
מאת: Coppens, Philip
יצא לאור: (1997)
מאת: Coppens, Philip
יצא לאור: (1997)
X-Ray charge densities and chemical bonding /
מאת: Coppens, Philip
יצא לאור: (1997)
מאת: Coppens, Philip
יצא לאור: (1997)
Al-based thin film quasicrystals and approximants /
מאת: Olsson, Simon
יצא לאור: (2013)
מאת: Olsson, Simon
יצא לאור: (2013)
Al-based thin film quasicrystals and approximants /
מאת: Olsson, Simon
יצא לאור: (2013)
מאת: Olsson, Simon
יצא לאור: (2013)
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
מאת: Servín, Manuel, et al.
יצא לאור: (2014)
מאת: Servín, Manuel, et al.
יצא לאור: (2014)
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
מאת: Servín, Manuel, et al.
יצא לאור: (2014)
מאת: Servín, Manuel, et al.
יצא לאור: (2014)
Structural inorganic chemistry.
מאת: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
יצא לאור: (1962)
מאת: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
יצא לאור: (1962)
Liquid crystals fundamentals /
מאת: Singh, Shri
יצא לאור: (2002)
מאת: Singh, Shri
יצא לאור: (2002)
Properties of materials anisotropy, symmetry, structure /
מאת: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
יצא לאור: (2005)
מאת: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
יצא לאור: (2005)