Electron diffraction techniques.
Αποθηκεύτηκε σε:
| Άλλοι συγγραφείς: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Oxford :
OUP,
c1993.
|
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
Electron diffraction techniques.
Έκδοση: (1993)
Έκδοση: (1993)
Modern diffraction methods
Έκδοση: (2013)
Έκδοση: (2013)
Modern diffraction methods
Έκδοση: (2013)
Έκδοση: (2013)
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
από: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Έκδοση: (2014)
από: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Έκδοση: (2014)
Fundamentals of the physical theory of diffraction /
από: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Έκδοση: (2014)
από: Ufimt͡sev, P. I͡A. (Petr I͡Akovlevich)
Έκδοση: (2014)
Two-dimensional X-ray diffraction
από: He, Bob B., 1954-
Έκδοση: (2009)
από: He, Bob B., 1954-
Έκδοση: (2009)
Two-dimensional X-ray diffraction
από: He, Bob B., 1954-
Έκδοση: (2009)
από: He, Bob B., 1954-
Έκδοση: (2009)
Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
Έκδοση: (2010)
Έκδοση: (2010)
Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
Έκδοση: (2010)
Έκδοση: (2010)
The basics of crystallography and diffraction
από: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Έκδοση: (2009)
από: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Έκδοση: (2009)
The basics of crystallography and diffraction
από: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Έκδοση: (2009)
από: Hammond, C. (Christopher), 1942-
Έκδοση: (2009)
Structure from diffraction methods /
Έκδοση: (2014)
Έκδοση: (2014)
Structure from diffraction methods /
Έκδοση: (2014)
Έκδοση: (2014)
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data /
από: Will, Georg
Έκδοση: (2006)
από: Will, Georg
Έκδοση: (2006)
Powder Diffraction The Rietveld Method and the Two Stage Method to Determine and Refine Crystal Structures from Powder Diffraction Data /
από: Will, Georg
Έκδοση: (2006)
από: Will, Georg
Έκδοση: (2006)
X-ray and related techniques : selected, peer reviewed papers of the International Conference on X-ray and Related Techniques in Research and Industry (IXCRI 2010) held at Langkawi Island, Malaysia from 9th to 10th of June 2010 /
Έκδοση: (2011)
Έκδοση: (2011)
X-ray and related techniques : selected, peer reviewed papers of the International Conference on X-ray and Related Techniques in Research and Industry (IXCRI 2010) held at Langkawi Island, Malaysia from 9th to 10th of June 2010 /
Έκδοση: (2011)
Έκδοση: (2011)
Structure determination from powder diffraction data
Έκδοση: (2002)
Έκδοση: (2002)
Structure determination from powder diffraction data
Έκδοση: (2002)
Έκδοση: (2002)
29th Annual Conference of the German Crystallographic Society, March 15-18, 2021, Hamburg, Germany.
Έκδοση: (2021)
Έκδοση: (2021)
29th Annual Conference of the German Crystallographic Society, March 15-18, 2021, Hamburg, Germany.
Έκδοση: (2021)
Έκδοση: (2021)
Chemical crystallography
Έκδοση: (2010)
Έκδοση: (2010)
Chemical crystallography
Έκδοση: (2010)
Έκδοση: (2010)
Einfuhrung in die Kristalloptik /
από: Buchwald, Eberhard, 1886-
Έκδοση: (1952)
από: Buchwald, Eberhard, 1886-
Έκδοση: (1952)
Einfuhrung in die Kristalloptik /
από: Buchwald, Eberhard, 1886-
Έκδοση: (1952)
από: Buchwald, Eberhard, 1886-
Έκδοση: (1952)
Theories and techniques of crystal structure determination
από: Shmueli, U. (Uri)
Έκδοση: (2007)
από: Shmueli, U. (Uri)
Έκδοση: (2007)
Theories and techniques of crystal structure determination
από: Shmueli, U. (Uri)
Έκδοση: (2007)
από: Shmueli, U. (Uri)
Έκδοση: (2007)
X-Ray charge densities and chemical bonding /
από: Coppens, Philip
Έκδοση: (1997)
από: Coppens, Philip
Έκδοση: (1997)
X-Ray charge densities and chemical bonding /
από: Coppens, Philip
Έκδοση: (1997)
από: Coppens, Philip
Έκδοση: (1997)
Al-based thin film quasicrystals and approximants /
από: Olsson, Simon
Έκδοση: (2013)
από: Olsson, Simon
Έκδοση: (2013)
Al-based thin film quasicrystals and approximants /
από: Olsson, Simon
Έκδοση: (2013)
από: Olsson, Simon
Έκδοση: (2013)
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
από: Servín, Manuel, κ.ά.
Έκδοση: (2014)
από: Servín, Manuel, κ.ά.
Έκδοση: (2014)
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
από: Servín, Manuel, κ.ά.
Έκδοση: (2014)
από: Servín, Manuel, κ.ά.
Έκδοση: (2014)
Structural inorganic chemistry.
από: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
Έκδοση: (1962)
από: Wells, A. F. (Alexander Frank), 1912-
Έκδοση: (1962)
Liquid crystals fundamentals /
από: Singh, Shri
Έκδοση: (2002)
από: Singh, Shri
Έκδοση: (2002)
Properties of materials anisotropy, symmetry, structure /
από: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
Έκδοση: (2005)
από: Newnham, Robert E. (Robert Everest), 1929-2009
Έκδοση: (2005)