Kết quả tìm kiếm - Wang, Laung-Terng

  • Đang hiển thị 1 - 2 kết quả của 2
Tinh chỉnh kết quả
  1. 1
    Ảnh bìa

    System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

    Được phát hành 2008
    Tác giả khác: “…Wang, Laung-Terng…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Điện tử eBook

    Lưu vào danh sách
    Đã lưu trong:
  2. 2
    Ảnh bìa

    VLSI test principles and architectures design for testability /

    Được phát hành 2006
    Tác giả khác: “…Wang, Laung-Terng…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Điện tử eBook

    Lưu vào danh sách
    Đã lưu trong:

Công cụ tìm kiếm: