Výsledky vyhledávání - Wang, Laung-Terng

  • Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2
Upřesnit hledání
  1. 1
    Obálka

    System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

    Vydáno 2008
    Další autoři: “…Wang, Laung-Terng…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronický zdroj E-kniha

    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  2. 2
    Obálka

    VLSI test principles and architectures design for testability /

    Vydáno 2006
    Další autoři: “…Wang, Laung-Terng…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronický zdroj E-kniha

    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:

Vyhledávací nástroje: