نتائج البحث - Wang, Laung-Terng

  • يعرض 1 - 2 نتائج من 2
تنقيح النتائج
  1. 1
    صورة الغلاف

    System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

    منشور في 2008
    مؤلفون آخرون: "…Wang, Laung-Terng…"
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    الكتروني كتاب الكتروني

    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:
  2. 2
    صورة الغلاف

    VLSI test principles and architectures design for testability /

    منشور في 2006
    مؤلفون آخرون: "…Wang, Laung-Terng…"
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    الكتروني كتاب الكتروني

    أضف إلى المفضلة
    محفوظ في:

أدوات البحث: