Zoekresultaten - Wang, Laung-Terng

  • Toon 1 - 2 resultaten van 2
Verfijn jouw resultaten
  1. 1
    Beeld op de omslag

    System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

    Gepubliceerd in 2008
    Andere auteurs: “…Wang, Laung-Terng…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronisch E-boek

    Toevoegen aan favorieten
    Bewaard in:
  2. 2
    Beeld op de omslag

    VLSI test principles and architectures design for testability /

    Gepubliceerd in 2006
    Andere auteurs: “…Wang, Laung-Terng…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronisch E-boek

    Toevoegen aan favorieten
    Bewaard in:

Zoekinstrumenten: