Resultados da pesquisa - Chakrabarty, Krishnendu

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    Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits Por Bahukudumbi, Sudarshan

    Publicado em 2010
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    Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits Por Bahukudumbi, Sudarshan

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    Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics Por Paik, Philip Y.

    Publicado em 2007
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    Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics Por Paik, Philip Y.

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