検索結果 - Chakrabarty, Krishnendu
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Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits 著者: Bahukudumbi, Sudarshan
出版事項 2010その他の著者: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
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Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits 著者: Bahukudumbi, Sudarshan
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Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics 著者: Paik, Philip Y.
出版事項 2007その他の著者: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
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Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics 著者: Paik, Philip Y.
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