खोज परिणाम - Chakrabarty, Krishnendu

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    Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits द्वारा Bahukudumbi, Sudarshan

    प्रकाशित 2010
    अन्य लेखक: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
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    इलेक्ट्रोनिक ई-पुस्तक

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    Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits द्वारा Bahukudumbi, Sudarshan

    प्रकाशित 2010
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    Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics द्वारा Paik, Philip Y.

    प्रकाशित 2007
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    Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics द्वारा Paik, Philip Y.

    प्रकाशित 2007
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