অনুসন্ধান ফলাফলগুলি - Chakrabarty, Krishnendu
-
1
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
প্রকাশিত 2010অন্যান্য লেখক: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ -
2
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
প্রকাশিত 2010অন্যান্য লেখক: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ -
3
Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
প্রকাশিত 2007অন্যান্য লেখক: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ -
4
Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
প্রকাশিত 2007অন্যান্য লেখক: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ