ISTFA 2004 proceedings of the 30th International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 14-18, 2004, Worcester's Centrum Centre, Worcester (Boston), Massachusetts /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
Corporate Authors:	International Symposium for Testing and Failure Analysis Boston, Mass., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
פורמט:	אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני
שפה:	English
יצא לאור:	Materials Park, OH : ASM International, c2004.
נושאים:	Electronics > Materials > Testing > Congresses. Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses. Electronic books.
גישה מקוונת:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

אינטרנט