ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Yhteisötekijät: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Aineistotyyppi: Elektroninen Konferenssijulkaisu E-kirja
Kieli:English
Julkaistu: Materials Park, OH : ASM International, c2007.
Aiheet:
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!