Результати пошуку - "Integrated circuits Ultra large scale integration Reliability."

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1

    Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems / за авторством Ibe, Eishi H.

    Опубліковано 2015
    Предмети: “...Integrated circuits Ultra large scale integration Reliability....”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Електронний ресурс eКнига