Risultati della ricerca - "Integrated circuits Ultra large scale integration Reliability."

Soggetti all'interno della tua ricerca.
  • Mostra 1 - 1 risultati su 1
Raffina i risultati
  1. 1
    Copertina

    Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems / di Ibe, Eishi H.

    Pubblicazione 2015
    Soggetti: “...Integrated circuits Ultra large scale integration Reliability....”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elettronico eBook

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:

Strumenti per la ricerca: