Suchergebnisse - "Diffraction patterns Data processing."

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    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / von Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    Veröffentlicht 2014
    Schlagworte: “… Diffraction patterns Data processing. …”
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    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / von Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

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