Výsledky vyhledávání - "Scanning proble microscopy."

  • Zobrazuji výsledky 1 - 1 z 1
Upřesnit hledání
  1. 1

    Atomic force microscopy exploring basic modes and advanced applications / Autor Haugstad, Greg, 1963-

    Vydáno 2012
    Témata: “…Scanning proble microscopy.…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronický zdroj E-kniha