Výsledky vyhledávání - "Integrated circuits Very large scale integration Testing."

Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
  • Zobrazuji výsledky 1 - 3 z 3
Upřesnit hledání
  1. 1
    Obálka

    VLSI test principles and architectures design for testability /

    Vydáno 2006
    Témata: “…Integrated circuits Very large scale integration Testing.…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronický zdroj E-kniha

    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  2. 2
    Obálka

    Power-constrained testing of VLSI circuits Autor Nicolici, Nicola

    Vydáno 2003
    Témata: “…Integrated circuits Very large scale integration Testing.…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronický zdroj E-kniha

    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:
  3. 3
    Obálka

    System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

    Vydáno 2008
    Témata: “…Integrated circuits Very large scale integration Testing.…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronický zdroj E-kniha

    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:

Vyhledávací nástroje: