Výsledky vyhledávání - "Integrated circuits Ultra large scale integration Reliability."

Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
  • Zobrazuji výsledky 1 - 1 z 1
Upřesnit hledání
  1. 1
    Obálka

    Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems / Autor Ibe, Eishi H.

    Vydáno 2015
    Témata: “…Integrated circuits Ultra large scale integration Reliability.…”
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronický zdroj E-kniha

    Přidat do oblíbených
    Uloženo v:

Vyhledávací nástroje: