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    To the digital age research labs, start-up companies, and the rise of MOS technology / par Bassett, Ross Knox, 1959-

    Publié 2002
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    Oxide reliability a summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability /

    Publié 2002
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    Technology evolution for silicon nano-electronics selected, peer reviewed papers from the proceedings of the International Symposium on Technology Evolution for Silicon Nano-Electr...

    Publié 2011
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    Geometric models for rolling-shutter and push-broom sensors / par Ringaby, Erik

    Publié 2014
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