Rezultaty
1 - 1
Rezultaty od
1
Przejdź do treści
VuFind
Login
Język
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Page will reload when a filter is removed.
Usuń filtry
Applied Filters:
Podobne hasła:
Remove Filter
Fault tolerance
Page will reload when a filter is removed.
Usuń filtry
Pokaż filtry (1)
Podobne hasła:
Remove Filter
Fault tolerance
Rezultaty
Rezultaty
Podobne hasła w twoim wyszukiwaniu.
Podobne hasła w twoim wyszukiwaniu.
Fault tolerance
Integrated circuits
1
Metal oxide semiconductor field-effect transistors
1
Reliability
1
Strains and stresses
1
Rezultaty
1 - 1
Rezultaty od
1
Redukuj rezultaty
Sortuj
Ważność
Według najnowszych
Według najstarszych
Sygnatura
Autor
Tytuł
1
Strain-engineered MOSFETs /
od
Maiti, C. K.
,
Maiti, T. K.
Wydane 2013
Sygnatura:
Ładuje się…
Zlokalizowane:
Ładuje się…
Click to View
Elektroniczne
E-book
kod QR
Standalone Record
Dodaj do listy ulubionych książek
Zapisane w:
Narzędzie wyszukiwania:
Abonuj RSS
Wyślij rezultaty emailem
Zapisz wyszukiwanie
z powrotem
Redukuj rezultaty
Page will reload when a filter is selected or excluded.
Instytucja
MyInstitution
1 Rezultatów
1
Biblioteka
Library A
1 Rezultatów
1
Format
Elektroniczne
1 Rezultatów
1
E-book
1 Rezultatów
1
Sygnatura
T - Technologia
1 Rezultatów
1
Autor
Maiti, C. K.
1 Rezultatów
1
Maiti, T. K.
1 Rezultatów
1
Język
angielski
1 Rezultatów
1
Gatunek
Electronic books
1 Rezultatów
1
Rok wydania
od:
do: