Zoekresultaten

Gesuggereerde onderwerpen binnen jouw zoekopdracht.
  • Toon 1 - 1 resultaten van 1
Verfijn jouw resultaten
  1. 1
    Beeld op de omslag

    Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications / door Servín, Manuel, Quiroga, J. Antonio, Padilla, J. Moises

    Gepubliceerd in 2014
    An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
    Elektronisch E-boek

    Toevoegen aan favorieten
    Bewaard in:

Zoekinstrumenten: