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    Crystals, defects and microstructures modeling across scales / Por Phillips, Rob, 1960-

    Publicado em 2001
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    The technology of building defects Por Hinks, John (A. John)

    Publicado em 1997
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    Shopping for safety providing consumer automotive safety information /

    Publicado em 1996
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    Asymptotic models of fields in dilute and densely packed composites Por Movchan, A. B. (Alexander B.)

    Publicado em 2002
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    Microelectronic failure analysis desk reference : 2001 supplement /

    Publicado em 2001
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    Corrosion understanding the basics /

    Publicado em 2000
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    Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits Por Ker, Ming-Dou

    Publicado em 2009
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    Microelectronic failure analysis desk reference.

    Publicado em 2002
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    Building surveys and reports Por Noy, Edward A.

    Publicado em 2011
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    Microelectronics failure analysis desk reference /

    Publicado em 2011
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    A practical guide to diagnosing structural movement in buildings Por Holland, Malcolm

    Publicado em 2012
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    Fault detection theory, methods and systems /

    Publicado em 2011
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    Photoionization of polyvalent ions Por Moncke, Doris

    Publicado em 2010
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    Defects and diffusion studied using PAC spectroscopy /

    Publicado em 2011
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    Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics i...

    Publicado em 2012
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    Defects and diffusion in metals : an annual retrospective IX /

    Publicado em 2007
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    Defects and diffusion in semiconductors.

    Publicado em 2013
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    Defects and diffusion in ceramics XIII : an annual retrospective XIII /

    Publicado em 2012
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    Defects and diffusion in metals : an annual retrospective XI /

    Publicado em 2009
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    Defects and diffusion in metals : an annual retrospective X /

    Publicado em 2008
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