ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
Cóipeáladh chuig an ngearrthaisce go rathúil é
Níorbh fhéidir cóipeáil chuig an ngearrthaisce
Lua i Stíl Chicago (17ú heag.)
ebrary, Inc, agus Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
Cóipeáladh chuig an ngearrthaisce go rathúil é
Níorbh fhéidir cóipeáil chuig an ngearrthaisce
Lua MLA (9ú heag.)
ebrary, Inc, agus Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
Cóipeáladh chuig an ngearrthaisce go rathúil é
Níorbh fhéidir cóipeáil chuig an ngearrthaisce
Rabhadh: Seans nach mbeach na luanna seo go hiomlán cruinn i ngach uile chás.