ebrary, Inc, & Nakamura, T. (2008). Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices. World Scientific.
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Style de citation Chicago (17e éd.)
ebrary, Inc, et Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. Hackensack, NJ: World Scientific, 2008.
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Style de citation MLA (9e éd.)
ebrary, Inc, et Takashi Nakamura. Terrestrial Neutron-induced Soft Errors in Advanced Memory Devices. World Scientific, 2008.
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Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.