System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
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| 其他作者: | , , |
| 格式: | 電子 電子書 |
| 語言: | 英语 |
| 出版: |
Amsterdam ; Boston :
Morgan Kaufmann Publishers,
c2008.
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| 叢編: | Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
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| 主題: | |
| 在線閱讀: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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