System-on-chip test architectures nanometer design for testability /

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書目詳細資料
企業作者: ebrary, Inc
其他作者: Wang, Laung-Terng, Stroud, Charles E., Touba, Nur A.
格式: 電子 電子書
語言:英语
出版: Amsterdam ; Boston : Morgan Kaufmann Publishers, c2008.
叢編:Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
主題:
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