System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , , |
| Формат: | Электронный ресурс eКнига |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
Amsterdam ; Boston :
Morgan Kaufmann Publishers,
c2008.
|
| Серии: | Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|