System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
Enregistré dans:
| Collectivité auteur: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | , , |
| Format: | Électronique eBook |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Amsterdam ; Boston :
Morgan Kaufmann Publishers,
c2008.
|
| Collection: | Morgan Kaufmann series in systems on silicon.
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|