תמונות העטיפה

QR Code

Comprehensive functional verification the complete industry cycle

Show other versions (1)

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Wile, Bruce
מחבר תאגידי:	ebrary, Inc
מחברים אחרים:	Goss, John C., Roesner, W. (Wolfgang)
פורמט:	אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Amsterdam ; Boston : Elsevier/Morgan Kaufmann, c2005.
נושאים:	Integrated circuits > Verification. Computer engineering. Electronic books.
גישה מקוונת:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

פריטים דומים

Comprehensive functional verification the complete industry cycle
מאת: Wile, Bruce
יצא לאור: (2005)

Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
מאת: Radecka, Katarzyna
יצא לאור: (2003)

Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
מאת: Radecka, Katarzyna
יצא לאור: (2003)

Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS
מאת: Yoeli, Michael, 1917-
יצא לאור: (2008)

Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS
מאת: Yoeli, Michael, 1917-
יצא לאור: (2008)

Verification techniques for system-level design
מאת: Fujita, Masahiro, 1956-
יצא לאור: (2008)

Verification techniques for system-level design
מאת: Fujita, Masahiro, 1956-
יצא לאור: (2008)

Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)

Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)

VLSI circuits for biomedical applications
יצא לאור: (2008)

VLSI circuits for biomedical applications
יצא לאור: (2008)

Digital circuit analysis and design with simulink modeling
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)

CMOS RFIC design principles
מאת: Caverly, Robert
יצא לאור: (2007)

CMOS RFIC design principles
מאת: Caverly, Robert
יצא לאור: (2007)

Digital circuit analysis and design with simulink modeling
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)

Understanding fabless IC technology
מאת: Hurtarte, Jeorge S.
יצא לאור: (2007)

Understanding fabless IC technology
מאת: Hurtarte, Jeorge S.
יצא לאור: (2007)

Alternative computer chips post-silicon circuits.
יצא לאור: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)

Alternative computer chips post-silicon circuits.
יצא לאור: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
יצא לאור: (2003)

Beweiseignung : fortgeschrittener elektronischer signaturen /
מאת: Grigorjew, Olga
יצא לאור: (2015)

Beweiseignung : fortgeschrittener elektronischer signaturen /
מאת: Grigorjew, Olga
יצא לאור: (2015)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)

Advanced interconnects for ULSI technology
יצא לאור: (2012)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)

Advanced interconnects for ULSI technology
יצא לאור: (2012)

Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)

Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)

Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)

Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)

Linear integrated circuits /
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)

Linear integrated circuits /
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)

System-level design with Rosetta
מאת: Alexander, Perry
יצא לאור: (2007)

System-level design with Rosetta
מאת: Alexander, Perry
יצא לאור: (2007)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
מאת: Tsividis, Yannis
יצא לאור: (2002)

VLSI test principles and architectures design for testability /
יצא לאור: (2006)