Εξώφυλλο

Κώδικας QR

Comprehensive functional verification the complete industry cycle

Εμφάνιση άλλων εκδόσεων (1)

Αποθηκεύτηκε σε:

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Wile, Bruce
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή:	ebrary, Inc
Άλλοι συγγραφείς:	Goss, John C., Roesner, W. (Wolfgang)
Μορφή:	Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:	Αγγλικά
Έκδοση:	Amsterdam ; Boston : Elsevier/Morgan Kaufmann, c2005.
Θέματα:	Integrated circuits > Verification. Computer engineering. Electronic books.
Διαθέσιμο Online:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Παρόμοια τεκμήρια

Comprehensive functional verification the complete industry cycle
από: Wile, Bruce
Έκδοση: (2005)

Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
από: Radecka, Katarzyna
Έκδοση: (2003)

Verification by error modeling using testing techniques in hardware verification /
από: Radecka, Katarzyna
Έκδοση: (2003)

Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS
από: Yoeli, Michael, 1917-
Έκδοση: (2008)

Verification of systems and circuits using LOTOS, Petri Nets, and CCS
από: Yoeli, Michael, 1917-
Έκδοση: (2008)

Verification techniques for system-level design
από: Fujita, Masahiro, 1956-
Έκδοση: (2008)

Verification techniques for system-level design
από: Fujita, Masahiro, 1956-
Έκδοση: (2008)

Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
από: Saha, Samar K.
Έκδοση: (2016)

Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
από: Saha, Samar K.
Έκδοση: (2016)

VLSI circuits for biomedical applications
Έκδοση: (2008)

VLSI circuits for biomedical applications
Έκδοση: (2008)

Digital circuit analysis and design with simulink modeling
από: Karris, Steven T.
Έκδοση: (2007)

CMOS RFIC design principles
από: Caverly, Robert
Έκδοση: (2007)

CMOS RFIC design principles
από: Caverly, Robert
Έκδοση: (2007)

Digital circuit analysis and design with simulink modeling
από: Karris, Steven T.
Έκδοση: (2007)

Understanding fabless IC technology
από: Hurtarte, Jeorge S.
Έκδοση: (2007)

Understanding fabless IC technology
από: Hurtarte, Jeorge S.
Έκδοση: (2007)

Alternative computer chips post-silicon circuits.
Έκδοση: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
Έκδοση: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
Έκδοση: (2003)

Alternative computer chips post-silicon circuits.
Έκδοση: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
Έκδοση: (2003)

Computer chips post-Moore's-law possibilities.
Έκδοση: (2003)

Beweiseignung : fortgeschrittener elektronischer signaturen /
από: Grigorjew, Olga
Έκδοση: (2015)

Beweiseignung : fortgeschrittener elektronischer signaturen /
από: Grigorjew, Olga
Έκδοση: (2015)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
από: Bahukudumbi, Sudarshan
Έκδοση: (2010)

Advanced interconnects for ULSI technology
Έκδοση: (2012)

Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
από: Bahukudumbi, Sudarshan
Έκδοση: (2010)

Advanced interconnects for ULSI technology
Έκδοση: (2012)

Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
από: Paik, Philip Y.
Έκδοση: (2007)

Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
από: Paik, Philip Y.
Έκδοση: (2007)

Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
από: Sweet, Allen A., 1943-
Έκδοση: (2008)

Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
από: Sweet, Allen A., 1943-
Έκδοση: (2008)

Linear integrated circuits /
από: Choudhury, D. Roy
Έκδοση: (2017)

Linear integrated circuits /
από: Choudhury, D. Roy
Έκδοση: (2017)

System-level design with Rosetta
από: Alexander, Perry
Έκδοση: (2007)

System-level design with Rosetta
από: Alexander, Perry
Έκδοση: (2007)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
από: Tsividis, Yannis
Έκδοση: (2002)

Mixed analog-digital VLSI devices and technology
από: Tsividis, Yannis
Έκδοση: (2002)

VLSI test principles and architectures design for testability /
Έκδοση: (2006)