Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces /
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
New York :
Oxford University Press,
1994.
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| Edición: | Rev. ed. |
| Colección: | Oxford series in optical and imaging sciences ;
5. |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiquetas: |
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