Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
Guardado en:
| Autor Corporativo: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Electrónico eBook |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Cambridge ; New York :
Cambridge University Press,
2000.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiquetas: |
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