Goodhew, P. J., Beanland, R., & Humphreys, F. J. (2001). Electron microscopy and analysis (3rd ed.). Taylor & Francis.
Copiat
No s'ha pogut copiar
Cita Chicago (17th ed.)
Goodhew, Peter J., R. Beanland, i F. J. Humphreys. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. London: Taylor & Francis, 2001.
Copiat
No s'ha pogut copiar
Cita MLA (9th ed.)
Goodhew, Peter J., et al. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. Taylor & Francis, 2001.
Copiat
No s'ha pogut copiar
Atenció: Aquestes cites poden no estar 100% correctes.