Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों: Servín, Manuel (लेखक), Quiroga, J. Antonio (लेखक), Padilla, J. Moises (लेखक)
स्वरूप: इलेक्ट्रोनिक ई-पुस्तक
भाषा:अंग्रेज़ी
प्रकाशित: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
विषय:
ऑनलाइन पहुंच:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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