תמונות העטיפה

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Show other versions (1)
שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Servín, Manuel (Author), Quiroga, J. Antonio (Author), Padilla, J. Moises (Author)
פורמט: אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
נושאים:
Diffraction patterns > Data processing.
Image processing > Data processing.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

אינטרנט

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

פריטים דומים