Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Servín, Manuel (Auteur), Quiroga, J. Antonio (Auteur), Padilla, J. Moises (Auteur)
Format:	Électronique eBook
Langue:	anglais
Publié:	Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Sujets:	Diffraction patterns > Data processing. Image processing > Data processing. Electronic books.
Accès en ligne:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

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