Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Servín, Manuel (Egilea), Quiroga, J. Antonio (Egilea), Padilla, J. Moises (Egilea)
Formatua: Baliabide elektronikoa eBook
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!