প্রচ্ছদ

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

অন্যান্য সংস্করণ প্রদর্শন করুন (1)
সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Servín, Manuel (Author), Quiroga, J. Antonio (Author), Padilla, J. Moises (Author)
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
বিষয়গুলি:
Diffraction patterns > Data processing.
Image processing > Data processing.
Electronic books.
অনলাইন ব্যবহার করুন:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

আন্তর্জাল

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

অনুরূপ উপাদানগুলি