Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: ebrary, Inc
Tác giả khác: Tabata, Osamu, Tsuchiya, Toshiyuki
Định dạng: Điện tử eBook
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Loạt:Advanced micro & nanosystems.
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!